- Артикул:00-01034368
- Автор: Чараев Г.Г.
- Обложка: Мягкий переплет
- Издательство: Энергия (все книги издательства)
- Город: Москва
- Страниц: 104
- Формат: 84х108 1/32
- Год: 1974
- Вес: 150 г
- Библиотека по автоматике
Развернуть ▼
В книге рассматриваются вопросы тестового контроля исправности и диагностики неисправностей логических и вычислительных устройств, построенных на основе интегральной электроники.
Книга предназначается для инженеров, занимающихся разработкой и эксплуатацией дискретных устройств на интегральных схемах, а также будет полезна студентам старших курсов, специализирующихся по вопросам надежности.
Содержание
Предисловие
Введение
Глава первая. Тестовые процедуры для логических схем на однотипных интегральных модулях
1. Логическая схема на мажоритарных модулях
2. Логическая схема на многовыходных комбинационных модулях
3. Логические схемы на пороговых элементах
4. Полифункциональные сети
Глава вторая. Тестовые процедуры для комбинационных однородных структур
5. Метод последовательного подбора внешних входных наборов при минимальных элементарных тестах
6. Метод последовательного подбора внешних входных наборов структуры при тривиальных элементарных тестах
7. Построение тестов для структур с различными ячейками
8. Метод одновременного подбора тест-наборов тривиального элементарного теста
Глава третья. Тестовые процедуры для вычислительных сред
9. Последовательный метод для вычислительной среды на трехвходовых ячейках с четырьмя функциями
10. Вычислительные среды со структурой матриц Минника
11. Последовательный метод для вычислительных сред с полным множеством функций ячеек
12. Параллельный метод для вычислительных сред с полным множеством функций ячеек
13. Тестовый контроль однородных вычислительных систем
Список литературы
Рекомендуем
Артикул 00204639
