- Артикул:00-01056595
- Автор: Королев Ф.А.
- Тираж: 6000 экз.
- Обложка: Твердая обложка
- Издательство: Государственное издательство технико-теоретической литературы (все книги издательства)
- Город: Москва
- Страниц: 279
- Формат: 84x108/32
- Год: 1953
- Вес: 483 г
Спектроскопия высокой разрешающей силы
Репринтное издание
В предлагаемой монографии освещена теория и практика спектроскопии высокой разрешающей силы.
При изложении теоретических вопросов автор базируется на развитой им теории, полностью учитывающей явления диффракции в интерференционных приборах. В книге дается теория ступенчатой решетки, плоско-параллельных пластинок, сложных интерферометров и их применения. Освещены вопросы ширины спектральных линий, а также вопросы, связанные с теорией и практикой источников света для спектроскопии высокой разрешающей силы. Кратко обрисованы основные области применения.
Книга предназначается для научных работников, аспирантов и студентов старших курсов физических факультетов университетов.
Оглавление
Предисловие
Раздел I. Спектроскопы высокой разрешающей силы
Глава I. Ступенчатая решетка (эшелон Майкельсона)
§ 1. Введение
§ 2. Разность хода между интерферирующими лучами у ступенчатой решетки
§ 3. Распределение интенсивности в спектре ступенчатой решетки
§ 4. Дисперсия и область дисперсии
§ 5. Монохроматическая ширина, предел разрешения и разрешающая сила ступенчатой решетки
§ 6. Различие между ступенчатой решеткой и плоско-параллельной пластинкой
§ 7. Отражательные ступенчатые решетки (отражательные эшелоны)
§ 8. Методы работы со ступенчатой решеткой
§ 9. Недостатки ступенчатых решеток
§ 10. Расчет разностей длин волн (волновых чисел) при работе со ступенчатыми решетками
Глава II. Плоско-параллельные пластинки с боковым входом света
§ 11. Типы плоско-параллельных пластинок
§ 12. Распределение интенсивности у плоско-параллельных воздушных пластинок с боковым входом света при параллельном падающем пучке света
§ 13. Распределение интенсивности у воздушных плоско-параллельных пластинок с боковым входом света при наличии в падающем свете пучков всевозможных направлений
§ 14. Пластинка Люммера-Герке. Общность теории для воздушных и стеклянных пластинок. Учет поглощения в стекле
§ 15. Дисперсия и область дисперсии пластинки Люммера-Герке
§ 16. Монохроматическая ширина, предел разрешения и разрешающая сила пластинки Люммера-Герке
§ 17. Методы работы с пластинками. Скрещенные пластинки
§ 18. Недостатки пластинок Люммера-Герке
Глава III. Плоско-параллельные пластинки Фабри-Перо
§ 19. Типы пластинок Фабри-Перо
§ 20. Распределение интенсивности
§ 21. Зависимость интенсивности света в проходящем свете от оптических свойств зеркальных слоев и прозрачной среды между ними
§ 22. Дисперсия и область дисперсии
§ 23. Монохроматическая ширина, предел разрешения и разрешающая сила. Влияние диафрагмирования входного отверстия на разрешающую силу
§ 24. Влияние точности изготовления зеркал на разрешающую силу
§ 25. Сложный интерферометр (мультиплекс)
§ 26. Методы работы с пластинками Фабри-Перо. Юстировка пластинок
§ 27. Метод расчета разностей длин волн
§ 28. Преимущества и недостатки пластинок Фабри-Перо
Раздел II. Источники света для исследований со спектроскопами высокой разрешающей силы. Области применения
Глава IV. Ширина спектральных линий
§ 29. Общие замечания
§ 30. Расширение спектральных линий вследствие затухания колебаний дипольного момента атома
§ 31. Квантовая теория естественной ширины спектральных линий
§ 32. Ширина спектральных линий, обусловленная затуханием при соударениях
§ 33. Соударения одинаковых атомов
§ 34. Теория Власова и Фурсова для ширины спектральных линий однородного газа
§ 35. Столкновения с электронами и нонами
§ 36. Столкновения с фотонами
§ 37. Расширение спектральных линий, обусловленное эффектом Допплера
§ 38. Совместное действие соударений и эффекта Допплера
§ 39. Влияние самообращения на ширину спектральных линий
Глава V. Источники света для исследований со спектроскопами высокой разрешающей силы
§ 40. Общие замечания
§ 41. Трубки с тлеющим электрическим разрядом (газосветные трубки)
§ 42. Разрядные трубки с полым катодом
§ 43. Источники света с высокочастотным газовым разрядом
§ 44. Источники света с дуговым разрядом в вакууме
§ 45. Источники света с атомными пучками
§ 46. Методы испарения металлов и методы возбуждения спектра в атомных пучках
§ 47. Устройства для получения атомных пучков с трудносжижаемыми газами
§ 48. Приборы для исследований по методу поглощения
Глава VI. Области применения спектроскопов высокой разрешающей силы
§ 49. Общие замечания
§ 50. Исследование узких мультиплетов и атомных спектрах
§ 51. Сверхтонкая структура спектральных линий и измерение механических и магнитных моментов атомных ядер
§ 52. Исследование свойств атомного ядра по изотопическому сдвигу спектральных линий
§ 53. Исследование сдвига энергетических уровней атомов и ионов благодаря электромагнитным эффектам «вакуума»
§ 54. Исследование влияния внешних электрических полей на тонкую структуру спектральных линий
§ 55. Исследование распределения интенсивности света в спектральных линиях
§ 56. Тонкая структура спектров рассеяния
Приложения:
Приложение 1. Дифракция Фраунгофера на прямоугольном и круглом отверстии
Приложение 2. Изготовление полупрозрачных зеркал для интерферометров Фабри-Перо методом испарения и вакууме
Приложение 3. Разрешение линий неравной интенсивности эталоном Фабри-Перо
Приложение 4. Фактор контрастности эталона Фабри-Перо
Приложение 5. Многослойные диэлектрические пленки в качестве зеркал для эталонов Фабри-Перо
Приложение 6. Методы регистрации интерференционной картины и обработки интерферограмм
Литература
Рекомендуем
