- Артикул:00-01101893
- Автор: Пришивалко А.П.
- Тираж: 2000 экз.
- Обложка: Твердая обложка
- Издательство: Издательство Академии наук БССР (все книги издательства)
- Город: Минск
- Страниц: 433
- Формат: 60х90 1/16
- Год: 1963
- Вес: 616 г
Развернуть ▼
Репринтное издание
В монографии рассматриваются вытекающие из формул Френеля основные закономерности отражения света от поглощающих сред, возможности их практического применения. Дан также анализ точности и границ применимости ряда методов определения оптических постоянных вещества по отражению, приведены таблицы амплитудных и энергетических коэффициентов отражения, разности фаз, азимута, степени поляризации, эллиптичности и других параметров отраженного света.
Книга как справочное пособие может быть использована научными работниками, преподавателями, аспирантами физических специальностей.
Содержание
Предисловие
Глава первая. Некоторые вопросы отражения и преломления света на границе двух изотропных сред
Формулы Френеля
Фазовые соотношения р- и s- компонент
Преломление света в поглощающих изотропных средах
Отражение света от поглощающих изотропных сред
Оптические постоянные некоторых веществ
Табулирование формул Френеля
Приближенные формулы для коэффициентов отражения
Глава вторая. Зависимости между характеристиками отраженного света и оптическими постоянными отражающей среды
Коэффициенты отражения
Степень поляризации
Разность фаз
Азимут восстановленной линейной поляризации
Наклон большой оси и отношение осей эллипса поляризации
Главный угол падения и главный азимут
Параметры Стокса
Глава третья. Методы определения оптических постоянных поглощающих веществ и их точность
Методы определения оптических постоянных и выбор измеряемых величин
Источники ошибок при определении оптических постоянных
Методы, основанные на измерениях коэффициентов пропускания и отражения Спектрофотометрические методы, учитывающие многократные отражения внутри слоя
Методы, основанные на измерениях коэффициентов отражения
Метод зеркального отражения при двух углах падения
Метод пересекающихся окружностей
Метод измерения коэффициентов отражения при нормальном падении
Методы, основанные на анализе эллиптической поляризации отраженного света
Метод измерения интенсивностей отраженного света при различных положениях поляризатора
Метод вращающегося поляризатора
Метод измерения наклона большой оси эллипса поляризации и отношения его осей
Метод, основанный на измерении параметров Стокса
Литература
Пояснения к таблицам параметров отраженного света
I. Таблицы амплитудных и энергетических коэффициентов отражения
II. Таблицы разности фаз при отражении от поглощающих сред
III. Таблицы значений азимута восстановленной линейной поляризации
IV. Таблицы значений степени поляризации при отражении от поглощающих сред
V. Таблицы значений отношения
VI. Таблицы значений угла наклона большой оси эллипса поляризации относительно плоскости падения
VII. Таблицы значений отношения осей эллипса поляризации
VIII. Таблицы значений компонент матрицы отражения Д11=Д22=RpRp*+RsRs*/2
IX. Таблицы значений компонент матрицы отражения Д12=Д21=RpRp*-RsRs*/2
X. Таблицы значений компонент матрицы отражения D33=D44=Rp*Rs+RpRs*/2
XI. Таблицы значений компонент матрицы отражения D43=D-34=ixRp*Rs-RpRs*/2
Рекомендуем
