- Артикул:00-01096168
- Автор: Г. Липсон, Г. Стипл
- Обложка: Твердая обложка
- Издательство: МИР (все книги издательства)
- Город: Москва
- Страниц: 388
- Формат: 60х90 1/16
- Год: 1972
- Вес: 618 г
Развернуть ▼
Авторы книги Г. Липсон и Г. Стипл - английские ученые, специалисты в области рентгенографии, причем первый из них известен советским читателям по переводу книги, написанной на высоком теоретическом уровне (Липсон Г., Кокрен В., Определение структуры кристаллов, ИЛ, 1956). Предлагаемая книга представляет собой модернизированное пособие по непрерывно совершенствующимся порошковым методам, которое включает все достижения последних лет, как экспериментальные, так и теоретические. Она рассчитана на рентгеноструктурщиков, использующих в основном порошковые рентгенограммы, а также на студентов, осваивающих порошковые методы рентгеноструктурного анализа.
Оглавление
Предисловие редактора перевода
Предисловие авторов
Глава 1. Кристаллические решетки и симметрия кристаллов
§1. Природа кристаллов
1. Кристаллическое состояние
2. Закон рациональных индексов
3. Симметрия
4. Зоны и оси зон
5. Стереографические проекции
§2. Симметрия кристаллов
1. Типы симметрии
2. Комбинации элементов симметрии
3. Кристаллические системы
4. Кристаллические решетки
5. Кристаллические классы
§3. Симметрия кристаллических структур
1. Плоскости скольжения и винтовые оси
2. Пространственные группы
3. Классы Лауэ
Глава 2. Геометрия рентгеновских отражений
§1. Дифракция на кристаллах
1. Дифракция от трехмерной решетки
2. Закон Брэгга
3. Порядки отражений
§2. Обратная решетка
1. Сущность обратной решетки
2. Разновидности обратной решетки
3. Использование обратной решетки при изучении явления дифракции
Глава 3. Рентгеновские лучи
§1. Природа, рентгеновского излучения
1. Введение
2. Белое излучение
3. Характеристическое излучение
§2. Преломление рентгеновских лучей
§3. Длины волн рентгеновских лучей
1. Единицы измерения
2. Точность измерения
§4. Поглощение рентгеновских лучей
1. Коэффициенты поглощения
2. Края поглощения и флуоресцентное излучение
3. Когерентное и некогерентное рассеяния
4. Выбор излучения. Приемы ослабления фона
§5. Отраженное кристаллом излучение
1. Введение
2. Изогнутые кристаллические монохроматоры
§6. Получение рентгеновских лучей
1. Типы рентгеновских трубок
2. Газовые трубки
3. Трубки с горячим катодом
4. Трубки с вращающимся анодом
5. Острофокусные трубки
6. Электролитическое платинирование анодов
7. Меры защиты
Глава 4. Регистрация порошковых рентгенограмм и их измерение
§1. Введение
§2. Приготовление образцов
§3. Измерение брэгговских углов
1. Геометрические характеристики камер
2. Измерение порошковых рентгенограмм
3. Поправка на поглощение
§4. Цилиндрические порошковые камеры
1. Диаметр камеры
§5. Рентгеновский дифрактометр для порошковых препаратов
1. Регистрация дифрагированного излучения
2. Геометрическая характеристика дифрактометра
3. Практические указания
§6. Высокотемпературные и низкотемпературные камеры
1. Высокотемпературные камеры
2. Низкотемпературные камеры
§7. Камеры высокого давления
§8. Камеры других типов
1. Фокусирующие камеры
2. Камеры для массивных образцов
3. Микролучевые камеры
4. Факторы, определяющие выбор камеры
§9. Дифракция нейтронов
Глава 5. Интерпретация порошковых рентгенограмм
§1. Введение
§2. Расчет рентгенограмм в случае известной ячейки
1. Кубическая система
2. Тетрагональная, гексагональная и тригональная системы
3. Ромбическая система
4. Моноклинная и триклинная системы
§3. Расчет рентгенограмм в случае неизвестной ячейки
1. Кубическая система
2. Тетрагональная система
3. Гексагональная и тригональная системы
4. Ромбическая система
5. Моноклинная система
6. Триклинная система
7. Преобразование осей методом Ито
8. Обобщение метода Ито для триклинной системы
9. Индицирование рентгенограмм триклинных кристаллов методом Сольдоса
§4. Графические методы интерпретации
1. Основные принципы графических методов
2. Метод Бьерстрема
3. Сетки Хэлла - Дэви
§5. Другие методы интерпретации
§6. Сравнение аналитических и графических методов
§7. Проверка правильности результата
Глава 6. Точное определение размеров элементарной ячейки
§1. Введение
§2. Исключение систематических ошибок в порошковых рентгенограммах
1. Несовпадение оси камеры и оси вращения образца
2. Поглощение и расходимость пучка рентгеновских лучей
3. Конечная высота образца
4. Усадка пленки
5. Преломление
6. Пределы точности
§3. Приемы работы с порошковыми рентгенограммами кубических и одноосных образцов
1. Основные положения метода для кубических образцов
2. Приемы расчета
3. Выбор излучения
4. Практический пример
5. Метод для одноосных образцов
§4. Аналитический метод Когена
1. Введение
2. Приемы устранения систематических ошибок
3. Случайные ошибки. Их учет
4. Практический пример
§5. Статистический метод
§6. Применение цилиндрической фокусирующей камеры
1. Введение
2. Устранение ошибок
§7. Камера обратной съемки с плоской кассетой
§8. Приемы работы на дифрактометре со счетчиком
1. Измерение брэгговского угла
2. Источники ошибок
3. Ошибки в положении максимума пика
4. Ошибки, связанные с положением центра тяжести дифракционного профиля
§9. Приложения
1. Определение коэффициентов теплового расширения
2. Определение фазовых границ на диаграммах равновесия
3. Определение плотности и молекулярного веса
4. Измерение внутренних напряжений
5. Определение кристаллических структур
Глава 7. Измерение интенсивностей рентгеновских рефлексов и их вычисление
§1. Введение
§2. Измерение интенсивностей фотографическими методами
1. Действие рентгеновского излучения на фотопленку
2. Типы фотометров
3. Основные условия измерения
4. Приложение к порошковым рентгенограммам
§3. Измерение интенсивностей при помощи дифрактометров
1. Регистрация рентгеновских квантов при помощи счетчиков
2. Счетчик Гейгера и пропорциональный счетчик
3. Сцинтилляционный счетчик
4. Интегральная интенсивность
§4. Вычисление интенсивностей рентгеновских рефлексов
1. Введение
2. Формула для относительной интенсивности
3. Угловой фактор
4. Фактор поглощения
5. Экстинкция
6. Фактор повторяемости
§5. Структурный фактор
1. Определение структурного фактора и структурной амплитуды
2. Атомный фактор
3. Температурный фактор
4. Геометрический структурный фактор
5. Отсутствие рефлексов (погасание), обусловленное типом решетки
§6. Приложения
1. Определение - расшифровка структуры
2. Изучение сверхструктурных образований в сплавах
3. Определение пропорций составных частей смеси
Глава 8. Определение (расшифровка) кристаллических структур
§1. Сравнение монокристального и порошкового методом
§2. Предварительные процедуры
1. Нахождение элементарной ячейки и пространственной группы
2. Масштабный коэффициент и температурный фактор
3. Нахождение приближенной структуры
§3. Некоторые примеры определения структуры
1. Общий критический обзор интенсивностей
2. Установление пространственной группы
3. Точное определение интенсивностей
4. Обнаружение псевдосимметрии
§4. Уточнение кристаллических структур
1. Введение
2. Уточнение параметров методом наименьших квадратов
3. Уточнение методом наиболее крутого спуска
4. Уточнение методом минимизации фактора расходимости
Глава 9. Анализ уширения порошковых линий
§1. Введение
§2. Пятнистые порошковые рентгенограммы
1. Причины возникновения пятнистости
2. Определение размера зерна по дискретным пятнам
§3. Уширение (размытие) порошковых линий
1. Определение ширины порошковых линий
2. Причины уширения порошковых линий
§4. Измерение уширения
1. Введение
2. Распределение интенсивности по уширенной порошковой линии
3. Метод Стокса
4. Измерение ширины линий
§5. Приложения
1. Кажущиеся размеры кристалла
2. Малоугловое рассеяние
3. Структурные ошибки
4. Деформированные кристаллы
Глава 10. Идентификация кристаллических материалов
§1. Введение
§2. Общие методы идентификации
1. Описания порошковых рентгенограмм
2. Картотека порошковых дифракционных данных
3. Некоторые практические трудности
§3. Идентификация в условиях ограниченного числа возможностей
1. Огнеупорные материалы
2. Системы сплавов
3. Минералы
Задачи
Решения задач
Приложение 1
Приложение 2
Приложение 3
Таблицы
Литература
Именной указатель
Предметный указатель
Рекомендуем
