- Артикул:00-01032668
- Автор: Екимов А.В., Ревяков М.И.
- Обложка: Твердая обложка
- Издательство: Энергоатомиздат (все книги издательства)
- Город: Ленинград
- Страниц: 208
- Формат: 60х90/16
- Год: 1986
- Вес: 337 г
Развернуть ▼
Систематизирование изложены вопросы теории и практики надежности электроизмерительных приборов и систем. Основное внимание уделяется проблеме метрологической надежности средств электроизмерительной техники и связанной с метрологической надежностью проблеме определения межповерочных интервалов, а также вопросам анализа и синтеза по критериям надежности сложных измерительных информационных и измерительно-вычислительных систем.
Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и эксплуатацией электроизмерительных приборов и систем, а также специалистов, работающих в области теории и практики надежности. Может быть полезна преподавателям, аспирантам и студентам вузов.
Оглавление
Предисловие
Глава первая. Основные понятия и количественные характеристики надежности средств электроизмерительной техники
1.1. Показатели надежности
1.2. Классификация отказов
1.3. Методы определения и контроля показателей надежности
Глава вторая. Метрологическая надежность средств ЭИТ
2.1. Проблема метрологической надежности
2.2. Модели исследования метрологической надежности аналоговых средств ЭИТ
2.3. Модели исследования старения средств измерений под воздействием окружающей среды
2.4. Модели исследования метрологической надежности, основанные на аппарате теории случайных функций
Глава третья. Межповерочные интервалы средств ЭИТ
3.1. Надежность и межповерочные интервалы
3.2. Определение МПИ по статистике скрытых отказов
3.3. Определение МПИ с учетом скрытых и явных отказов
3.4. Оптимизация МПИ по экономическому критерию
Глава четвертая. Оценка надежности измерительно-информационных систем методом статистического моделирования
4.1. Понятие надежности ИИС
4.2. Надежность ИИС без восстановления
4.3. Надежность ИИС с восстановлением
4.4. Точность метода статистического моделирования
4.5. Примеры расчета надежности ИИС
Глава пятая. Аналитическая оценка надежности измерительных систем
5.1. Вероятность безотказной работы ИИС
5.2. Линейная аппроксимация функции выходного эффекта ИИС
5.3. Надежность ИВС без восстановления
5.4. Надежность ИВС с восстановлением
5.5. Надежность ИВС с перестраиваемой структурой
Глава шестая. Оптимизация параметров измерительных систем по критерию надежности
6.1. Оптимизация дискретных параметров ИИС по монотонному критерию
6.2. Оптимизация непрерывных параметров ИИС по монотонному критерию
6.3. Оптимизация параметров ИИС по немонотонному критерию
6.4. Сокращение объема испытаний при оптимизации параметров ИИС
6.5. Аналитическая оптимизация параметров ИВС
6.6. Статистическая оптимизация параметров ИВС
Список литературы
Рекомендуем
Артикул 00-00002163
