- Артикул:00-01049400
- Автор: Ильин В.Н.
- Обложка: Твердый переплет
- Издательство: Энергия (все книги издательства)
- Город: Москва
- Страниц: 280
- Формат: 84х108 1/32
- Год: 1972
- Вес: 427 г
Развернуть ▼
В книге сделана попытка обобщить и систематизировать материалы по машинному проектированию электронных схем. Последовательно излагаются общие сведения о машинном проектировании, математические модели активных и пассивных компонентов электронных схем, методы автоматического составления уравнений схем, методы детерминированного и статистического анализа схем и их оптимизации по детерминированным и статистическим критериям. Книга рассчитана на инженеров по радиоэлектронике и вычислительной технике, а также может быть полезна студентам и аспирантам соответствующих специальностей.
Оглавление
Предисловие
Введение
Глава первая. Математические модели компонентов электронных схем
1-1. Общие сведения о математических моделях компонентов
A. Понятие модели. Внутренние и внешние параметры модели
Б. Классификация моделей
B. Основные требования к моделям
1-2. Модели активных компонентов
A. Выпрямляющий диод
Б. Биполярный транзистор
B. Полевой транзистор
Г. Туннельный диод
1.1. Модели пассивных элементов
А. Пленочные пассивные элементы
Б. Пассивные интегральные полупроводниковые элементы
Глава вторая. Составление уравнений электронной схемы с помощью ЦВМ
2-1. Исходные предпосылки для составления уравнений
A. Постановка задачи
Б. Область применимости законов Кирхгофа
B. Исходная информация для составления уравнений
Г. Матрицы компонентов схемы
Д. Матричная запись основных методов анализа цепей
2-2. Топологическое описание электронных схем
A. Граф схемы и его элементы
Б. Структурная матрица графа
B. Матрица главных сечений графа
Г. Матрица главных контуров
Д. Связь между топологическими матрицами
2-3. Алгебро-топологические уравнения цепей
A. Основные алгебро-топологические соотношения в однородном координатном базисе
Б. Общие сведения об уравнениях состояния линейных схем
B. Учет нелинейных активных компонентов в уравнения состояния
Г. Иерархия ветвей, построение дерева и клеточное разбиение матриц контуров и сечений
Д. Составление алгебро-топологических уравнений состояния
Глава третья. Анализ электронных схем
3-1. Анализ статического режима
A. Постановка задачи
Б. Расчет статического режима методом простой итерации
B. Метод Ньютона
3-2. Анализ переходных процессов
A. Постановка задачи
Б. Методы численного решения обыкновенных дифференциальных уравнений
B. О точности и устойчивости методов численного интегрирования
Г. Сравнение методов Эйлера и Рунге-Кутта
3-3. Статистический анализ электронных схем
A. Постановка задачи о статистическом анализе электронной схемы
Б. Метод Монте-Карло
B. Моделирование законов распределения случайных чисел на ЦВМ
Г. Методика статистического анализа схем методом Монте-Карло. Точность метода Монте-Карло
Глава четвертая. Оптимизация электронных схем
4-1. Постановка задачи
A. Типы критериев оптимальности
Б. Типы ограничений
B. Математическая постановка задачи
4-2. Регулярные методы оптимизации
А. Градиентные методы
Б. Оптимизация с учетом ограничений-неравенств
В- Оптимизация с учетом ограничений-равенств
Г. Поиск глобального Экстремума
4-3. Статистические методы оптимизации
A. Постановка задачи
Б. Алгоритмы случайного поиска локального экстремума
B. Алгоритм с самообучением
Г. Статистические алгоритмы глобального поиска
4-4. Оптимизация по статистическим критериям
A. Оптимизация по проценту выхода годных схем
Б. Оптимизация по условиям взаимозаменяемости
B. Оптимизация косвенных тестов
Литература
Рекомендуем
