- Артикул:00-01025615
- Автор: Н.Ф.Геда
- Обложка: Твердая обложка
- Издательство: Радио и связь (все книги издательства)
- Город: Москва
- Страниц: 368
- Формат: 84х108 1/32
- Год: 1981
- Вес: 593 г
- Серия: Измерения в электронике (все книги серии)
Развернуть ▼
Приведена классификация приборов некогерентной оптоэлектроники и определена оптимальная система параметров. Рассмотрены методы измерения параметров и основы проектирования информационно-измерительных комплексов, управляемых ЭВМ. Обсуждено метрологическое обеспечение разработок и производства приборов некогерентной оптоэлектроники. Разработаны научно-методические основы метрологического обеспечения предприятия.
Для специалистов, работающих в различных областях радиоэлектроники, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Оглавление
Предисловие
Введение
Глава 1. Система обеспечения единства и требуемой точности измерений параметров приборов некогерентной оптоэлектроники
1.1. Некогерентная оптоэлектроника – направление функциональной электроники
1.2. Приборы некогерентной оптоэлектроники
1.3. Классификация. Термины и определения
1.4. Принципы разработки системы параметров
1.5. Разработка системы параметров приборов некогерентной оптоэлектроники
Глава 2. Элементы фотометрии
2.1. Излучение оптического диапазона
2.2. Энергетические и световые характеристики излучения
2.3. Характеристики зрительного восприятия
Глава 3. Физические принципы преобразования электрических и оптических сигналов
3.1. Инжекционные источники излучения
3.2. Приемники некогерентного излучения
3.3. Согласование спектральных характеристик приемника с параметрами излучения
Глава 4. Система параметров излучающих приборов и приборов визу-ального представления информации и методы их измерения
4.1. Система параметров
4.2. Методы измерения параметров
Глава 5. Система параметров фотоприемников и методы их измерения
5.1. Система параметров
5.2. Методы измерения параметров
Глава 6. Системы параметров оптопар и оптоэлектронных микросхем и методы их измерения
6.1. Системы параметров
6.2. Методы измерения параметров
6.3. Эквивалентные параметры оптопары как многополюсника
Глава 7. Измерительное оборудование для контроля параметров изделий некогерентной оптоэлектроники
7.1. Стандартные измерители фотометрических параметров излучателей
7.2. Измерители спектрального состава некогерентного излучения, спектральной чувствительности фотоприемников и фотопреобразователей
7.3. Совершенствование метрологических характеристик стандартных фотометров для использования их в производстве некогерентной оптоэлектроники
7.4. Нестандартные измерители фотометрических параметров
8. Измерители электрических и временных параметров
Глава 8. Информационно-измерительные комплексы, управляемые ЭВМ, в производстве изделий некогерентной оптоэлектроники
8.1. Принципы построения систем автоматического контроля приборов некогерентной оптоэлектроники
8.2. Автоматизация измерения электрических параметров
8.3. Автоматизация измерений фотометрических параметров
8.4. Расчет спектральных характеристик фотопреобразователей
8.5. Энергетический расчет фотопреобразователя
8.6. Согласование фотоприемника с электронным трактом излучения
8.7. Расчет, геометрических параметров фотопреобразователя
8.8. Погрешности измерения электрических и фотометрических параметров
8.9. Информационно-измерительные комплексы, управляемые ЭВМ, для контроля параметров излучателей индикаторов визуального отображения информации
8.10. Информационно-измерительные системы, управляемые ЭВМ, для контроля параметров оптопар и оптоэлектронных микросхем
Глава 9. Метрологическое обеспечение разработок и производства изделий некогерентной оптоэлектроники
9.1. Проблемы метрологического обеспечения промышленного предприятия при производстве изделий некогерентной оптоэлектроники
9.2. ПУВТ и отраслевая поверочная схема для средств измерений силы света излучающих оптоэлектронных приборов
9.3. ПУВТ и отраслевая поверочная схема для воспроизведения и передачи размера единицы относительной спектральной чувствительности рабочим фотометрам
9.4. Проблемы метрологического обеспечения измерительного контроля параметров изделий электронной техники
9.5. Система метрологического обеспечения промышленного предприятия
9.6. Методы нормирования показателей точности средств измерений в условиях полупроводникового производства изделий электронной техники
Глава 10. Измерение параметров и проблемы метрологического обеспечения в производстве полупроводниковых материалов некогерентной оптоэлектроники
10.1. Полупроводниковые материалы для излучателей видимого и ИК диапазонов
10.2. Основные характеристики и критерии выбора полупроводниковых материалов для фотоприемников
10.3. Система параметров полупроводниковых материалов некогерентной оптоэлектроники
10.4. Метрологическое обеспечение производства полупроводниковых материалов некогерентной оптоэлектроники
Список литературы
Предметный указатель
Рекомендуем
